金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜國標
2013/7/10
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常規的X射線測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM，是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在*的條件下進行，XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量
印制線路板上手動測量
珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：
XULM： 固定平面平臺
XULM XYm： 手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。
